英文名: x-ray diffraction profile
简称XD。具有波动性的X射线束照射晶体物质时产生的衍射现象。X射线衍射设备主要包括:X射线源、试样架及测角系统、X射线探测记录分析系统。探测衍射X射线的方法有照相法及衍射仪法两大类。根据研究对象及目的采用不同的衍射实验技术。用于研究 ...